Delphi-X Observer para ciencia de materiales (metalográfico)

Oculares

• Super gran campo SWF10x/25 mm., para porta-ocular Ø 30 mm
• Oculares de gran campo extendido EWF 10x/22 mm. opcionales, para porta-ocular Ø 30 mm

CABEZAL EStÁNDAR
Trinocular de diseño Siedentopf con porta-oculares inclinados 30°. Distancia inter-pupilar ajustable entre 47 y 78 mm. Selector de distribución de luz (100:0 / 80:20 / 0:100). Ajuste de ± 5 dioptrías en ambos oculares. Foto tubo vertical de Ø 23.2 mm

CABEZAL ERGONÓMICO
Cabezal trinocular ergonómico opcional inclinable entre 0 y 35°, suministrado con oculares SWF 10x/25 mm Distancia inter-pupilar ajustable entre 47 y 78 mm. Selector de distribución de luz (100:0 / 80:20 / 0:100). Ajuste de ± 5 dioptrías en ambos oculares. Foto tubo vertical de Ø 23.2 mm

REVÓLVER PORTA-OBJETIVOS
Revólver porta-objetivos séxtuple giratorio sobre rodamientos de bolas con rosca de montaje de 26 mm

SISTEMA MEJORADO DE CORRECCIÓN A INFINITO (EIS)
El sistema mejorado de corrección a infinito (EIS) del Delphi-X Observer™ consiste en oculares SFWF 10x25 mm de super gran campo, objetivos para-focales 45 mm. de alta apertura numérica y una lente de tubo de 200 mm. de distancia focal. La lente tubular de 200 mm de distancia focal reduce el ángulo de los rayos de luz que pasan a través de la óptica y, como resultado directo, mejora significativamente las correcciones y el contraste de la aberración cromática. Los objetivos con un diámetro mayor permiten aberturas numéricas mucho más altas que mejoran el poder de resolución general del sistema óptico.

Por todas estas razones, Delphi-X Observer™ ofrece un rendimiento óptico superior para las aplicaciones más exigentes

OBJETIVOS 
El Delphi-X Observer™ se suministra de serie con objetivos plan semiapocromáticos BD 5x/0,15 WD 20 mm, 10x/0,30 WD 11 mm y 20x/0,45 WD 3,1 mm Objetivos planiapocromáticos BD 50x/0,80 WD 1 mm, 100x/0,90 WD 1 mm objetivos de campo Claro/campo Oscuro corregidos a infinito

* Opcional 
Todos los objetivos son para-focales 45 mm. y tienen una rosca de montaje M26mm. Todas las ópticas están tratadas con anti-fúngicos y con recubrimiento anti-reflectante para un máximo rendimiento de luz

PLATINA

• Platina mecánica de 215 x 170 mm. con desplazamiento de  105 x 105 mm. Controles para diestros
• La altura de la platina se puede bajar para muestras grandes hasta 55 mm. de altura (con el equipo estandar la altura de la muestra puede ser de 1 a 28 mm)
• La platina puede montarse en dos posiciones:

Para la ergonomía del usuario, usando el accesorio opcional EDX-9887 la altura de la platina se puede bajar trabajando con muestras de altura estándar

Accesorio para bajar el revolver porta-objetivos
El accesorio EDX-9887 baja 40 mm. el revólver porta-objetivos y permite la utilización de la platina en su posición más baja

Elevador del nivel de los ojos
El elevador del nivel de los ojos EDX-9885 eleva 25,4 mm. el punto focal del ocular 

ENFOQUE
Enfoque macro y micrométrico coaxial, micrométrico de  100 graduaciones, precisión de 1 µm, 100 μm por rotación, el rango de recorrido total es de aproximadamente 35 mm. Se suministra con un tope de cremallera ajustable para evitar daños en la muestra y los objetivos. El enfoque macrométrico esta equipado con ajuste de tensión. Las perillas de enfoque se pueden cambiar de izquierda a derecha según las preferencias del usuario

CONDENSADOR DE LARGA DISTANCIA DE TRABAJO
Condensador A.N. 0,65, de larga distancia de trabajo (10,2 mm) con marcas de identificación de apertura numérica que permiten un fácil ajuste

ILUMINACIÓN
El microscopio metalográgico Delphi-X Observer está equipado con iluminación incidente y transmitida Köhler halógena 100W con fuente de alimentación interna 100-240 Vca. e intensidad regulable. La iluminación transmitida viene con dos filtros de densidad neutra de insertables para una atenuación suave de la intensidad de la luz para todo tipo de muestras. 

El microscopio viene de serie con un analizador y un polarizador que se pueden insertar fácilmente en las ranuras libres del iluminador incidente para obtener imágenes polarizadas de alta calidad. Además, se implementa un casete giratorio para cambiar rápidamente entre campo oscuro, campo claro y campo claro atenuado

NOMARSKI DIC (opCional)
Con el rediseño del módulo DIC, la visualización de las diferencias de altura que normalmente no se pueden mostrar usando técnicas de campo claro ha mejorado mucho. Estas imágenes en relieve son ideales para inspecciones de superficie de obleas, pantallas LCD, etc

(Foto: revólver porta-objetivos con ranura para el deslizador Nomarski DIC)

ASA DE TRANSPORTE
El asa de transporte en la parte posterior del microscopio garantiza un transporte seguro del microscopio y el soporte porta-herramientas integrado aseguran que la herramienta correcta esté siempre disponible

ALMACENAMIENTO

EAE-9914-D

CONTENIDO DEL PAQUETE
Se suministra con cable de alimentación, cubierta antipolvo, fusible de repuesto, manual del usuario y herramienta universal. Todo empacado en una caja de poliestireno